化探工作中,什么叫衬度
存在差异而引起的定义：又称衬值，是描述某值或某参数的程度，是其值与其基数的比值。如异常衬值（地质）：异常内元素平均含量与背景值之比。是异常清晰度的量度，所以也叫异常清晰度。
由样品强度的差异形成的衬度叫衍射衬度，简称衍衬。
）分析区域地球化学异常的元素组合、浓集系数、衬度、面积等，划分异常等级和类型，研究其空间分布规律，探讨背景、趋势等。4）开展找矿地球化学和勘探地球化学工作。
表面形貌衬度就是由于试样表面形貌差别而形成得衬度。利用对试样表面形貌变化敏感得物理信号调制成像，可以得到形貌衬度图像。
据此编制了地球化学异常图。对于埋藏较浅的含矿岩体、铜、镍、钴等主要指示元素的异常十分明显，其衬度（指异常含量与异常平均值之比）分别为10；对于埋藏较深的岩体，没有发现明显异常。
测网一般由疏而密。④运积层覆盖区的异常一般均较弱，给发现及评价异常带来困难。为了提高其衬度，样品多采取偏提取的分析 *** ，或特征性元素组合和特征性景观元素组合的比值来区分矿致异常与非矿致异常。
二次电子像衬度包括什么
电子显微图像的衬度主要包括质量厚度衬度（质厚衬度）、衍射衬度、相位衬度和Z衬度。质厚衬度：由样品中不同区域的平均原子序数或厚度存在差异而引起的。衍射衬度：由样品内不同区域的晶体学特征存在差异而引起的。
物质原子核外电子受到入射电子作用产生激发，以入射方向逸出样品的电子称为二次电子。二次电子像主要是反映样品表面10nm左右的形貌特征，像的衬度是形貌衬度，衬度的形成主要取于样品表面相对于入射电子束的倾角。
根据二次电子像的明暗衬度，即可知道试样表面凹凸不平的状况，二次电子像是试样表面的形貌放大像。SEM内在试样的斜上方放置有探测器来接受这些电子。
若把吸收电子信号作为调制图像的信号，则其衬度与二次电子像和背散射电子像的反差是互补的。④透射电子。如果样品厚度小于入射电子的有效穿透深度，那么就会有相当数量的入射电子能够穿过薄样品而成为透射电子。
扫描电镜(SEM)中表面形貌衬度和原子序数衬度各有什么特点
扫描电镜主要是二次电子像，主要反映试样表面的形貌特征。像的衬度是形貌衬度，衬度形成主要决定于试样表面相对于入射电子束的倾角。试样表面凸出处，二次电子发射电流比平坦处和凹陷处大。
透射电镜信号：透射电镜是一种高分辨率的显微镜，可以直接观察纳米颗粒的形貌和尺寸。通过对透射电镜图像的分析，可以计算出纳米颗粒的形貌衬度。
由于样品表面各部位的形貌、成分和结构等的差异，被激发的二次电子、背散射电子数量有所不同，从而在阴极射线管上形成反映样品表面特征的明暗不同的图像。因此，扫描电镜的图像是一种衬度图像，并不是彩色图像。
显像管中的电子束在荧光屏上也作光栅状扫描，并且这种扫描运动与样品表面的电子束的扫描运动严格同步，这样即获得衬度与所接收信号强度相对应的扫描电子像，这种图象反映了样品表面的形貌特征。
扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
背散射电子的产生范围深，由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加，所以，利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可用来显示原子序数衬度，定性地进行成分分析。②二次电子。
tem模式下图像出现明暗衬度的原因是什么
非晶样品的象衬度非晶样品透射电子显微图象衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，即质量厚度衬度（质量厚度定义为试样下表面单位面积以上柱体中的质量），也叫质厚衬度。
在TEM中，产生这种差异的主要原因是振幅差和相位差，对应的衬度称为振幅衬度和相位衬度。
这种衬度可以人为地造成，如生物样品中用重元素染色，在材料表面的复形膜上从一个方向喷镀一层金属，造成阴阳面等。散射吸收(指被光阑挡住)衬度是最早被人们所认识和利用的衬度机制。
图片的明暗不同（黑白灰）与样品的原子序数、电子密度、厚度等相关。成像方式与光学显微镜相似，只是以电子代替光子，电磁透镜代替玻璃透镜，放大后的电子像在荧光屏上显示出来。
由于衍射衬度与衍射条件密切相关，对晶体内衍射面网取向的变化十分敏感，因而是研究晶体缺陷的有力手段。长期以来，透射电镜的图像都是通过观察室的荧光屏进行观察，用照相底片进行记录的。
透射电子显微镜(Tran *** ission electron microscopy，TEM)，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。