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1、怎么分析XRD图谱2、怎么分析通过XRD测结晶度的谱图?怎么分析XRD图谱
1、XRD图中有很多信息,如组成(物相)和结构、粒度、应力、结晶度等,其分析方法各不相同。
2、比如,若是做物相分析,样品是已知物质的,你只要将XRD图谱与标准图进行比携丛友对就可以大致判断,一般设备中都会提供已知物数据库,供调用比对。
3、当然杂相分析就需要一定的经验了,不是一两句话就能郑搏说清楚的。
4、若是做的未知物(新物相),则必须做纯,再用相应软件如PowderX等来处理,也有一定的技巧。
扩展资料:
分析XRD图谱常用的软件:
有Pcpdgwin,Search match,High score和Jade,比较常用的是后两种。
一、High score
1、可以调用的数据格式更多。
2、窗口设置更人性化,用户可以自己选择。
3、谱线位置的显示方式,可以让你更直接地看到检索的情况
4、手动加峰或减峰更加方便。
5、可以对衍射图进行平滑等操作,使图更漂亮。
6、可以更改原始数据的步长、起始角度等参数。
7、可以进行辩槐0点的校正。
8、可以对峰的外形进行校正。
9、可以进行半定量分析。
10、 物相检索更加方便,检索方式更多。
11、可以编写批处理命令,对于同一系列的衍射图,一键搞定。
二、Jade
和Highscore相比自动检索功能少差,但它有比之更多的功能。
1、它可以进行衍射峰的指标化。
2、进行晶格参数的计算。
3、根据标样对晶格参数进行校正。
4、轻松计算峰的面积、质心。
5、出图更加方便,你可以在图上进行更加随意的编辑。
此外,还有Pcpdgwin和searc。
参考资料来源:百度百科-xrd
怎么分析通过XRD测结晶度的谱图?
分析方法:
已知波长的X射线来测量θ角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律:2d sinθ=nλ,式中λ为X射线的波长,n为任何正整数,又称衍射级数。
当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时,在符合上式的条件下,高者将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。
扩展资料:
谱图分析注意事项:
一张XRD图谱出来,往往因为有空气散射,漫散射,荧光以及样品结晶差等等原因而造成图谱上存在许多“毛刺”和较高的背底,虽然提高X光强度能成倍提高信噪比基州,然而有时受仪器和样品所限,这两项功能需要用到。
还要尽量少使用平滑和扣背底,因为这两项操作带来的可能后果就是将一些微弱的有用信息一概抹掉,如果将数据用来做Rietveld精修,更不要进行这两项操作。
当然,如果是将图谱打印出来给别人看,适当进行戚锋薯平滑和扣背底的选择。
参考资料来源:百度百科-xrd